Hệ thống ép nhiệt độ – Máy kiểm tra sốc nhiệt độ AES

Thích hợp cho thử nghiệm IC của chip bán dẫn, bộ nhớ Flash Flash/EMMC, bảng mạch PCB, truyền thông quang học, ngành công nghiệp điện tử

Hệ thống ép nhiệt độ – Máy kiểm tra sốc nhiệt độ AES (máy kiểm tra va đập nhiệt độ cao và thấp dòng tia) cung cấp nhiệt độ môi trường chính xác và nhanh chóng cho chip, mô-đun, bảng mạch tích hợp, linh kiện điện tử, v.v. Đây là một công cụ không thể thiếu để kiểm tra hiệu suất điện, phân tích lỗi và đánh giá độ tin cậy của sản phẩm. So với các bộ điều nhiệt truyền thống, hệ thống của chúng tôi sở hữu một số tính năng đáng chú ý:

• Phạm vi nhiệt độ: -120 ° C đến + 300 ° C
• Tốc độ làm nóng và làm mát nhanh, đạt 150°C đến -55°C trong vòng chưa đầy 10 giây
• Lưu lượng khí quyển tối đa: 30m/h
• Theo dõi nhiệt độ IC theo thời gian thực với phản hồi vòng kín để điều chỉnh chính xác
• Thời gian tăng và giảm có thể kiểm soát được, với hoạt động điều khiển có thể lập trình, thủ công và từ xa
• Điều kiện thử nghiệm: nhiệt độ môi trường 20°C, 30m/h 5Bar, sử dụng khí nén hoặc khí amoniac

Hơn nữa, máy kiểm tra va đập nhanh lưu lượng khí 100m/h của chúng tôi có thể được thiết kế riêng để đáp ứng nhu cầu thử nghiệm quy mô lớn. Trải nghiệm hiệu quả và độ chính xác vô song với Hệ thống ép nhiệt độ – Máy kiểm tra sốc nhiệt độ AES của chúng tôi.